通過比較正常樣品與問題樣品真空信息的變化，可以幫忙我們判斷是否由于CAD GAS的異常導致了TOF分辨率的下降；或者是因為離子入口（Orifice）堵導致了靈敏度的下降。本文檔介紹了如何利用OS軟件，打開已采集完成的數據，查看之前采集時的真空狀態。

打開一個使用相同質譜方法采集的信號正常的歷史數據。

點擊show后選擇Sample Information，打開樣品數據信息。

從Sample Info 里MS Device Details: Start of Acquisition里找到樣品采集時質譜的真空狀態。